SJ 50033.11-1994 半导体分立器件.3DK208型功率开关晶体管详细规范
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ID： |
FD607E2987604F59A90E0063534BE7B7 |
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文件大小(MB)： |
0.53 |
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页数： |
10 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-27 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,3DK208型功率开关晶体管详细规范,SJ 50033/11-94,范围,1.I 主题内容,本规范规定了 3DK2Q8A.I型NPN硅功率开关晶体管的详细要求.每种器件均按,GJB 33《半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的三个等级（GP、GT和GCT级）,1.2 外形尺寸,外形尺寸应按GB 7581《半导体分立器件外形尺寸》的B2-O1C型及如下规定（见图0 :,图1,国,云,1.3最大额定值,中华人民共和国电子工业部1994-09 30发布,中B2- O1C,符共,min nom max,A 8,63,12.19,蜘1. 52,他0.966 L 092,加22.86,d 5.46a,F 3.50,L SiO 13. 9,厶I. 52,怔3. 84 4.21,q 29.90 30* 40,及】13, 58,為4. 82,5 16.89*,5 40, 13,S 27. 17,1994-12-01 实施,一 ]—,下载,SJ 50033/11-94,型 号,尸ゴ,Tc =25 C,(W),%uo,(V),VfEC,(V),ヅ師O,(V),Ic,(A),人,(A),以,(C) (C),3DK208A 50 30,3DK208B 80 50,3DK2O8C 110 80,3DK2O8D 150 150 no 6 10 3,0 175 —55775,3DK208E 200 150,3DK208F 25。200,3DK2O8G 350 250,3DK208H 45。300,3DK208I .500 . 350,注;1） Tc >25C,按1000mW/ C的速率线性地降额,1.4主要电特性（7'=25 C）,注:D瓦片440各档,其误楚不超过上20%;描q>40各档,其误差不超过±10%,X极限值,\,型号、,んFE5 ",へ,:-5.0V,1c k5. OA,ヅ联:⑻口ムD しホ.f-r,Vce ~ 10V,A： ~ 11 OA,片 3.0MHz,(MHz),以,VtB =I0V,J ホ 0.1MHz,厶=0,(pF),Rdi 叮一 c),Vce =25V,厶=2. OA,C C /W),八 ー 5. OA,7s —0, 5A,(V),[c =5, OA,『/=〇. 5A,[即=-04 5A,(RS),max max min max max,3DK208A-I 红15.25,橙25.40,黄40.55,绿55.80,蓝 80-12C,LO 1.1 0.8 2.4 〇, 5 8 800 1*0,2引用文件,GB 4587双极型晶体管测试方法,GB 7581半导体分立器件外形尺寸,GJB 33 半导体分立器件总规范,GJB128半导体分立器件试验方法,3要求,3.1 详细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3-2设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3.2 -1引出线材料和涂层,__ ヮ .,SJ 50033/11-94,引出线材料应为可伐,引出线表面应为锡层或侵层。对引出线涂层有选择要求时,在合同,或订货单中应予规定,3- 3标志,器件的标志应按GJB 33的规定,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定.,4.2 鉴定检髓,鉴定检验应按GJB 33的规定,4.3 筛选（仅对GT和GCT级）,器件的筛选应按GJB 33表2和本规范的规定,下列测试应按本规范表1的规定进行,超,过本规范表1规定极限值的器件应予剔除,筛 选,（见GJB 33的表2）,测 试,GT和GCT级,7、中间电参数测试和加コ,8、功率老化见 4. 3.1,9、最后测试按本规范表1的A2分组:,A/c丒萇初始值的1QO%或20叩A,取较大者.,岫や久初始值的士20%,4- 3-1功率老化条件,功率老化条件如下:,T, =162. 5±12. 5 C,屋e =25V,Fe >75W,44质量一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33的规定进行,4.4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4.4-2 B组检验,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行O,4.4.3 c组检验,C组检輪应按GJB 33和本规范表3的规定逬行,4-5检验方法,检验方法应按本规范相应的表和下列规定,4. 5-1脉冲测试,脉冲测试应按GJB 128的3. 3. 2. 1的规定,4.5.2热阻,SJ 50033ハ 1—94,热阻测试应按GB 4587的2.10和下列规定,a1加功率时的ムー 2. 0A；,b. VCe =25V ；,c.基准温度测试点应为管壳;,d.基推点温度范围为25CW般く75 C ,实际,温度应记录;,e.安装应带散热装置f,f. 的最大极限值应为1.0 CVW,4. 5.3 C组寿命试验,C组寿命试验应按GJB 33和本规范的规定进行O,4.5.4恒定加速度,恒定加速度试验应按GJB 33和本规范的规定进行,表! A组检验,检验或试验,GB 4587,LTPD 符号,极限值,单位,方法条 件min max ;,A1分组,外观及机械检验,GJB 128,2071,5,A2分组,集电极ーー发射极,击穿电圧,3DK208A,3DK2O8B,3DK208C,3DK208D,3DK2O8E,3DK2O8F,3DK208G,3DK208H,3DK2O8I,发射极一基极,击穿电压,集电极一基极,截止电流,集电极ー发射极,裁止电流,发射极一基极,截止电流,集电极ー发射……
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